Кафедра теоретической и прикладной метрологии

Кафедра «Теоретическая и прикладная метрология» была организована в 2016 году на базе ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" - ведущего отраслевого института в России в области обеспечения единства измерений.

Миссия кафедры

Подготовка высококвалифицированных кадров на основе современных исследований мирового уровня в области обеспечения единства измерений с целью обеспечения конкурентных преимуществ ВНИИМ по приоритетным направлениям развития науки и технологий Российской Федерации.

Кафедра проводит подготовку аспирантов по направлению "12.06.01 Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии" по программам, имеющим следующую направленность:

• 05.11.01 Приборы и методы измерения по видам измерений;
• 05.11.13 Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий;
• 05.11.15 Метрология и метрологическое обеспечение.

05.11.15 Метрология и метрологическое обеспечение.

• организация и осуществление учебного методическое обеспечение по профилю кафедры;
• организация и проведение фундаментальных, поисковых и прикладных научных исследований и иных научных работ по профилю кафедры и проблемам системы многоуровневого профессионального образования;
• обеспечение научного и учебно-методического сопровождения преподавания дисциплин и программ по профилю кафедры, внедрение учебный процесс современных образовательных технологий;
• формирование у обучающихся толерантного сознания, способности к труду и жизни в современных условиях, профилактики экстремизма;
• сохранение и приумножение культурных и научных ценностей общества.

Заведующий кафедрой — Окрепилов Михаил Владимирович, доктор технических наук, заместитель генерального директора по качеству и образовательной деятельности.