Празднование 175-летия ВНИИМ

Около 500 ученых и специалистов приняли участие в Международной научно-практической конференции «175 лет ВНИИМ им.Д.И.Менедлеева и Национальной системе обеспечения единства измерений». Конференция прошла с 14 по 15 июня 2017 г. и стала центральным событием в программе празднования 175-летия ВНИИМ им. Д.И.Менделеева. В рамках конференции было представлено 150 докладов, прошел круглый стол по вопросам образования в области метрологии, были организованы тематические сессии по актуальным вопросам обеспечения единства измерений.

В пленарном заседании приняли участие руководители Росстандарта, заместитель директора Департамента государственной политики в области технического регулирования, стандартизации и обеспечения единства измерений Минпромторга РФ Д.А.Кузнецов, президент Метрологической академии В.В.Окрепилов, председатель комитета по промышленной политике и инновациям Санкт-Петербурга М.С. Мейксин, представители комитета по науке и высшей школе. С докладами выступили Stephen Patoray, директор Международного бюро законодательной метрологии (BIML), Toshiyuki Takatsuj, президент Азиатско-Тихоокеанской метрологической программы (APMP), Michael Stock руководитель отдела физической метрологии Международного бюро по мерам и весам (BIPM), Theodoor Janssen, директор по исследованиям Национальная физическая лаборатория Великобритании (NPL) и другие представители национальных метрологических организаций.

В ходе торжественного открытия состоялась церемония награждения лучших сотрудников ВНИИМ им. Д.И.Менделеева грамотами и благодарностями Минпромторга, Росстандарта, Комитета по науке и высшей школе Санкт-Петербурга.